電子萬(wàn)能試驗機橫向變形試驗有什么要點(diǎn)？
發(fā)布時(shí)間：2022-08-26 來(lái)源：濟南恒思盛大儀器有限公司 瀏覽：次
電子萬(wàn)能試驗機的變形試驗是指在各種載荷作用下，變形體在時(shí)間或空間上的形狀、大小和位置的變化。變形監測又稱(chēng)變形測量或變形觀(guān)測。變形量測是對設置在變形體上的觀(guān)測點(diǎn)進(jìn)行周期性、重復性觀(guān)測，得到觀(guān)測點(diǎn)各周期相對于第一階段點(diǎn)位或高程的變化。
電子萬(wàn)能試驗橫向變形試驗主要包括以下四點(diǎn)：
1. 變形測量技術(shù)參數：變形測量指標參數包括測量范圍、示值誤差、靈敏度和分辨率。
2. 測量范圍---試驗機通過(guò)測量系統測量的材料或部件的小尺寸之間的范圍。
3. 示值誤差---試樣變形值記錄或顯示的測量值與實(shí)測值的差值稱(chēng)為試驗機測量系統的示值誤差。指示誤差是不可避免的，其大小在規定范圍或標準范圍內。
4. 試驗機變形測量靈敏度---靈敏度指示器相對于測量變化的位移率。靈敏度是測量物理儀器的一個(gè)標志。試驗機測量系統靈敏度越高，測量結果的精度越高。
電子萬(wàn)能試驗機變形測量的等級和精度取決于變形允許值和變形測量目的。目前普遍認為，如果觀(guān)測的目的是使變形值不超過(guò)某一允許值，以保證建筑物的安全，則觀(guān)測中誤差不應小于允許變形值的1/10~1/20;如果觀(guān)測的目的是研究變形過(guò)程，則觀(guān)測精度應更高。
電子萬(wàn)能試驗機變形測量是利用試驗機對變形體的變化進(jìn)行監測。該方法的目的是獲得變形體的空間位置隨時(shí)間的變化特征，并根據結果調整相應的結果
電子萬(wàn)能試驗橫向變形試驗主要包括以下四點(diǎn)：
1. 變形測量技術(shù)參數：變形測量指標參數包括測量范圍、示值誤差、靈敏度和分辨率。
2. 測量范圍---試驗機通過(guò)測量系統測量的材料或部件的小尺寸之間的范圍。
3. 示值誤差---試樣變形值記錄或顯示的測量值與實(shí)測值的差值稱(chēng)為試驗機測量系統的示值誤差。指示誤差是不可避免的，其大小在規定范圍或標準范圍內。
4. 試驗機變形測量靈敏度---靈敏度指示器相對于測量變化的位移率。靈敏度是測量物理儀器的一個(gè)標志。試驗機測量系統靈敏度越高，測量結果的精度越高。
電子萬(wàn)能試驗機變形測量的等級和精度取決于變形允許值和變形測量目的。目前普遍認為，如果觀(guān)測的目的是使變形值不超過(guò)某一允許值，以保證建筑物的安全，則觀(guān)測中誤差不應小于允許變形值的1/10~1/20;如果觀(guān)測的目的是研究變形過(guò)程，則觀(guān)測精度應更高。
電子萬(wàn)能試驗機變形測量是利用試驗機對變形體的變化進(jìn)行監測。該方法的目的是獲得變形體的空間位置隨時(shí)間的變化特征，并根據結果調整相應的結果
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